奥林巴斯olympus延迟块探头，延迟探头microscan延迟块探头可在测量极薄材料，温度极高，或要求极高厚度分辨率的应用中，发挥极jia的测量性能。
频率 
（mhz） 晶片 
直径
探头
工件 
编号
支架
工件 
编号
mm in.
0.5 25 1.00 m2008* u8415001 - -
2.25 13 0.50 m207-rb u8410017 - -
5.0 13 0.50 m206-rb u8410016 - -
5.0 6 0.25 m201-rm u8410001 - -
5.0 6 0.25 m201h-rm u8411030 2127 u8770408
10
6
0.25 m202-rm u8410003
-
-
m202-sm u8410004
10 6 0.25 m202h-rm u8507023 2127 u8770408
10
3
0.125 m203-rm u8410006
-
-
m203-sm u8410007
20
3
0.125 m208-rm u8410019
-
-
m208-sm u8410020
20 3 0.125 m208h-rm u8410018 2133 u8770412
20 3 0.125 m2055** u8415013 - -
30 6 0.25 v213-bc-rm** u8411022 - -
*这些探头只能与高穿透软件选项一起使用。 
**这些探头中的延迟块不能替换。
奥林巴斯olympus可替换的延迟块延迟块的作用是在被测样件表面与探头晶片之间充当保护性缓冲器。
晶片 
直径
延迟块 最大厚度 
测量极限*
mm in. 工件 工件 
编号 钢- 模式2 钢- 模式3 塑料- 模式2
mm in. mm in. mm in.
13 0.50 dlh-2 u8770062 25 1.0 13 0.5 13 0.5
6 0.25 dlh-1 u8770054 25 1.0 13 0.5 13 0.50
3 0.125 dlh-3 u8770069 13 0.5 5 0.2 5 0.2
奥林巴斯olympus附加产品
耦合剂为得到探头与被测样件之间的声学耦合，几乎总会需要液体耦合剂。我们所提供的各种耦合剂几乎可以适用于所有应用。
奥林巴斯olympus校准试块试块是校准超声测厚仪的必要工具，为保持、核查超声测量的精确性、独立性及可靠性，一定要使用校准试块。试块所使用的公差标准较astm e797规范中表述的公差更为严格。我们备有公制单位的试块。
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